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| 發(fā)布時(shí)間： | 2024-11-10 09:15 |
| 最后更新： | 2024-11-10 09:15 |
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一般電子產(chǎn)品在早夭期失效的Ea為0.2~0.6eV，正常有用期失效的Ea趨近于1.0eV；衰老期失效的Ea大于1.0eV。
根據Compaq可靠度工程部（CRE）的測試規范，Ea是機臺所有零件Ea的平均值。如果新機種的Ea無(wú)法計算，可以將Ea設為0.67eV，做常數處理。
加速因子計算范例:
例1：Ea=0.50eV，Kb= 0.00008623eV/°k, Tn=25℃+273=298°k，Ta=40℃+273=313°k
AF=e{ Ea/Kb*[1/Tn-1/Ta]}=2.
例2：Ea=0.65eV，Kb= 0.00008623eV/°k, Tn=35℃+273=308°k，Ta=40℃+273=313°k
AF=e{ Ea/Kb*[1/Tn-1/Ta]}=1./
4、MTBF計算范例:
例1：某機型為例：30臺樣品，信心度為0.6，MTBF目標值為240000小時(shí)，用戶(hù)使用溫度為35度，測試溫度為40度。
假設在測試結束前不失效，求總的運行時(shí)間T及MTBF測試要用的天數D。
解：MTBF=240000h，AF=1.47，C=0.6，α=1-C=0.4，r=0， X2(α,2r+2)=1.83
240000=1.47*2*T/1.83 T=148748.88h
D=T/(30*24)==206.60天
（2）假設在測試11天后，有一臺失效，不替換失效樣品，即29臺接著(zhù)測試，求繼續測試時(shí)需要的總時(shí)間t及MTBF測試要用的天數d。
解：MTBF=240000h，AF=1.47，C=0.6，α=1-C=0.4，r=1， X2(α,2r+2)=4.04
注意：此時(shí)總的運行時(shí)間T=11*24*30+t ，因為此時(shí)已經(jīng)測了11天
240000=1.47*2*T/4.04 T=328298.45h, t=320378.45h
d=t/(29*24)=320378.45/696=460.31天
D=d+11=460.31 + 11=471.31天
（3）假設在測試11天后，有一臺失效，替換失效樣品，即仍然是30臺接著(zhù)測試，求繼續測試時(shí)需要的總時(shí)間t及MTBF測試要用的天數d。
a: 240000=1.47*2*T/4.04 T=328298.45h, t=320378.45h D=T/(30*24)=320378.45/720=455.97天 d=D-11=444.97天
b: 此時(shí)總的運行時(shí)間T=11*24*30+t ，因為此時(shí)已經(jīng)測了11天
240000=1.47*2*T/4.04 T=328298.45h, t=320378.45h
d=t/(29*24)=320378.45/696=444.97天
D=d+11=444.97 + 11=455.97天
MTBF測試，Burn-in測試，ALT區別:
圖片
Burn-in：“老化”測試，指產(chǎn)品在規定的應力條件下，使其特性達到穩定的方法。
ALT：Accelerated life test，加速壽命測試，是在超過(guò)使用環(huán)境條件的應力水平下對樣品進(jìn)行的壽命試驗。