可靠性加速壽命試驗加速模型及壽命分布模型，我們在做可靠性加速壽命試驗時(shí)候經(jīng)常用到可靠性壽命試驗，加速壽命試驗是采用高應力水平下的壽命特征去推測正常應力條件下的壽命特征，是要建立壽命特征和應力水平之間的關(guān)系，這個(gè)關(guān)系就是加速模型。
加速模型主要是用來(lái)描述失效模式的可靠性特征量（平均壽命、特征壽命、失效率）與加速應力水平之間的關(guān)系。
一、常用的加速壽命試驗加速模型有：
阿倫尼斯模型（Arrhenius）、逆冪律模型、Peck模型、艾林模型
1、阿倫尼斯模型
在加速壽命試驗中用溫度作為加速應力是非常普遍的，因為高溫能使產(chǎn)品的電子元器件、絕緣材料加快化學(xué)反映，造成產(chǎn)品提前失效。
阿倫尼斯模型是使用較為普遍的加速試驗模型，它也稱(chēng)為熱老化模型。
2、逆冪律模型
在加速壽命試驗中用電應力如電壓、電流、功率作為加速應力也是非常常見(jiàn)的。
逆冪律模型溫度變化速率與循環(huán)次數滿(mǎn)足逆冪律模式：
3、溫濕度兩綜合的加速模型主要有：艾琳模型和Peck模型。
實(shí)際試驗過(guò)程中，高溫老化用阿倫尼斯模型、溫度循環(huán)加速模型用W-E模型和逆冪律模型、溫度+濕度兩綜合應力加速模型用Peck模型和艾林模型、機械應力或電應力采用逆冪律加速模型、也有采用溫度+濕度+振動(dòng)三綜合應力加速模型的。
二、產(chǎn)品壽命分布模型
壽命分布模型是系統壽命特征的數學(xué)表達方式，對于電子設備統計方法一般采用失效時(shí)間建模方法，產(chǎn)品主要有兩種狀態(tài)，故障狀態(tài)和工作狀態(tài)。其中指數分布、威布爾分布、對數正態(tài)分布是常見(jiàn)的連續型壽命分布模型，二項分布、泊松分布、超幾何分布是常見(jiàn)的離散型分布模型。