fpga與cpld,有源輸出測試,眼寬測試,物理層測試SI信號測試
4. )3. OPEN-DRAIN提供了靈活的輸出方式，也有其弱點(diǎn)，就是帶來(lái)上升沿的延時(shí)。因為上升沿是通過(guò)外接上拉無(wú)源電阻對負載充電，當電阻選擇小時(shí)延時(shí)就小，但功耗大;延時(shí)大功耗小。如果對延時(shí)有要求，則建議用下降沿輸出。4. 可以將多個(gè)開(kāi)漏輸出的Pin，連接到一條線(xiàn)上。通過(guò)一只上拉電阻，在不增加任何器件的情況下，形成“與邏輯”關(guān)系。這也是I2C，SMBus等總線(xiàn)判斷總線(xiàn)占用狀態(tài)的原理。 在一個(gè)結點(diǎn)(線(xiàn))上, 連接一個(gè)上拉電阻到電源 VCC 或 VDD 和 n 個(gè) NPN 或 NMOS 晶體管的集電** C 或漏**
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