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| 發(fā)貨期限： | 自買(mǎi)家付款之日起 天內發(fā)貨 |
| 所在地： | 廣東 深圳 |
| 有效期至： | 長(cháng)期有效 |
| 發(fā)布時(shí)間： | 2023-12-15 11:46 |
| 最后更新： | 2023-12-15 11:46 |
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X射線(xiàn)光電子能譜儀(XPS)+餓歇電子能譜儀(AES)
XPS利用光電效應的原理，測量X射線(xiàn)激發(fā)出的光電子能量和計數，對樣品表面幾個(gè)納米深度的范圍內進(jìn)行半定量的成分和化學(xué)態(tài)分析；AES利用電子激發(fā)出的俄歇電子，對表面進(jìn)行微區的成分和化學(xué)態(tài)分析。
測試范圍：
除H和He之外的所有元素
分析深度約5nm(AES約3nm)
檢測下限約0.1%
空間分辨率約30μm(AES約10nm)
服務(wù)項目：
各種固體表面的元素成分
化學(xué)價(jià)態(tài)
分子結構分析
深度剖析
深圳市啟威測標準技術(shù)服務(wù)有限公司提供的專(zhuān)業(yè)、高效、實(shí)惠的分析測試服務(wù)可以幫助客戶(hù)節省昂貴儀器費用，管控產(chǎn)品質(zhì)量，分析產(chǎn)品配方及加速產(chǎn)品研發(fā)。
熱分析：DSC、TGA、DSC-TGA、TMA、DMA、旋轉流變儀
色譜分析：GPC、GC、 GC-MS、LC、LC-MS
光譜分析：ICP、XRF、FTIR、XRD
核磁分析NMR：1H、13C、29Si 、31P、17O譜
質(zhì)譜分析: 高分辨率、低分辨率質(zhì)譜
粒度分析：馬爾文激光粒度儀、 BET比表面積測試儀
電鏡分析：SEM、TEM、AFM;