根據晶體對 X射線(xiàn)的衍射特征一衍射線(xiàn)的位置、強度及數量來(lái)鑒定結晶物質(zhì)之物相的方法，就是 X 射線(xiàn)物相分析法。每一種結晶物質(zhì)都有各自獨特的化學(xué)組成和晶體結構。沒(méi)有任何兩種物質(zhì)，它們的晶胞大小、質(zhì)點(diǎn)種類(lèi)及其在晶胞中的排列方式是完全一致的。當X射線(xiàn)波長(cháng)與晶體面間距值大致相當時(shí)就可以產(chǎn)生衍射。

當X射線(xiàn)被晶體衍射時(shí)，每一種結晶物質(zhì)都有自已獨特的衍射花樣，它們的特征可以用各個(gè)衍射品面間距d 和射線(xiàn)的相對強度 I/I1來(lái)表征。其中晶面間距 d 與晶胞的形狀和大小有關(guān)相對強度則與質(zhì)點(diǎn)的種類(lèi)及其在晶胞中的位置有關(guān)。任何一種結晶物質(zhì)的衍射數據d和I/1 是其晶體結構的必然反映，可以根據它們來(lái)鑒別結晶物質(zhì)的物相。如果您需要了解更多X 射線(xiàn)衍射儀物相分析測試技術(shù)的信息，請聯(lián)系我們，微源檢測實(shí)驗室將為您安排負責的工程師答疑并針對樣品需求情況提供專(zhuān)業(yè)的服務(wù)。歡迎致電咨詢(xún)！