| 單價(jià)： | 面議 |
| 發(fā)貨期限： | 自買(mǎi)家付款之日起 天內發(fā)貨 |
| 所在地： | 廣東 深圳 |
| 有效期至： | 長(cháng)期有效 |
| 發(fā)布時(shí)間： | 2023-12-13 19:16 |
| 最后更新： | 2023-12-13 19:16 |
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億博檢測可提供高低溫測試服務(wù)，實(shí)驗室具備高低溫等環(huán)境可靠性試驗CNAS測試資質(zhì)和測試能力，可提供第三方高低溫測試服務(wù)，并可出具認可的中英文檢測報告。
我司可開(kāi)展高低溫測試溫度范圍：
低溫試驗：-70℃~常溫；
高溫試驗：常溫~500℃；
恒定濕熱試驗：溫度范圍（-70℃-150℃），濕度范圍（20%~98%RH）；
交變濕熱試驗：溫度范圍（-70℃-150℃），濕度范圍（20%~98%RH）；
溫度變化試驗：-70℃~170℃；
低溫/低氣壓試驗：氣壓（0.5kPa-100kPa），溫度范圍（-15℃~常溫）；
高溫/低氣壓試驗：氣壓（0.5kPa-100kPa），溫度范圍（-15℃~200℃）；
溫度/濕度試驗：溫度范圍（-70℃-150℃），濕度范圍（20%~98%RH）；
未飽和高壓蒸汽恒定濕熱試驗：溫度范圍（105℃-145℃）,濕度范圍（75%~****RH）；
恒定濕熱試驗：溫度范圍（-70℃-150℃），濕度范圍（20%~98%RH）；
我司可開(kāi)展以下標準高低溫測試服務(wù)：
GJB《軍用裝備試驗室環(huán)境方法第3部分：高溫試驗》
GB/T 2423.2-2008/IEC :2007《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗B:高溫》
GJB《軍用裝備試驗室環(huán)境方法第4部分：低溫試驗》
GB/T 2423.1-2008/IEC :2007《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗A：低溫》
GJB《軍用裝備試驗室環(huán)境方法第5部分：溫度沖擊試驗》
GJB《軍用設備環(huán)境試驗方法溫度—高度試驗》
GB/T 2423.22-2012/IEC 4:2009《環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗N:溫度變化》
GB/T 2423.3-2016/IEC :2012《環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Cab：恒定濕熱試驗》
GB/T 2423.40-2013/IEC :1994《環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Cx：未飽和高壓蒸汽恒定濕熱》
GB/T 2423.50-2012/IEC :1995《環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Cy：恒定濕熱主要用于元件的加速試驗》
IEC :1995+A1:2019《環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Cy：恒定濕熱主要用于元件的加速試驗》
GJB《軍用裝備試驗室環(huán)境方法第9部分：濕熱試驗》
GB/T 2423.4-2008(IEC :2005)《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Db:交變濕熱（12h+12h循環(huán)）》
GB/T 2423.34-2012(IEC :2009)《環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Z/AD：溫度/濕度組合循環(huán)試驗》
IEC :2021《環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Z/AD：溫度/濕度組合循環(huán)試驗》